Untersuchungsmethoden
 
 
Service
 
ERC
 

REM - Rasterelektronenmikroskopie

Ansprechpartner: Dr. rer. nat. Alexander Schwedt
e-mail: schwedt@gfe.rwth-aachen.de
Telefon: +49-241-80-24347


Die Rasterelektronenmikroskopie dient zur Abbildung von Oberflächen und Gefügen mit einer Auflösung bis zu 1nm und sehr hoher Schärfentiefe. Die integrierte Elektronenstrahlmikroanalyse (EDX) liefert chem. Analysen von Mikrobereichen für alle Elemente Z > 4 bei einer Nachweisgrenze > 0,1%. Die Analyse der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) liefert Informationen zu Kristallstruktur und -orientierung und kann neben der Gefügebeschreibung zur Bestimmung des Phasenbestands, der Korngrößenverteilung, Untersuchung von Deformationsmechanismen oder Texturen im Material verwendet werden.


Anwendungen

 

Spezielle Verfahren